Mit diesem Terahertz-Bildgebungssystem lassen sich verborgene Herstellungsfehler entdecken sowie

Mit diesem Terahertz-Bildgebungssystem lassen sich verborgene Herstellungsfehler entdecken sowie Oberflächen und Beschichtungen in Qualität und Dicke charakterisieren. (Bild: SynView GmbH)

Das Terahertz-Bildgebungssystem SynViewScan der SynView GmbH erlaubt Einblicke in die Struktur nicht-metallischer Werkstücke wie Kunststoff-Komposite-Strukturen.

GLASHÜTTEN (rm). Dadurch lassen sich verborgene Herstellungsfehler entdecken. Ebenfalls können Oberflächen und Beschichtungen in Qualität und Dicke charakterisiert werden.  Dies ist auch dann möglich, wenn die Oberfläche von anderen Materialien verdeckt wird.

Terahertz und mm-Wellen sind hochfrequente elektromagnetische Strahlung im Bereich von 100 bis 10 000 GHz. Zu den Eigenschaften zählen die gesundheitliche Unbedenklichkeit, eine Orts- und Tiefenauflösung im mm-Bereich und besser, die Transparenz der meisten nicht leitfähigen Materialien und eine hohe Empfindlichkeit für Wasser und Feuchtigkeit.

Eine weite Verbreitung der Terahertz- und mm-Wellen in der Materialprüfung ist bisher an der Verfügbarkeit von robusten und leistungsfähigen Quellen und Detektoren gescheitert.

Die Lösung von SynView erlaubt im Gegensatz zu teuren Forschungsgeräten den wirtschaftlichen Einsatz von THz-Strahlung für industrielle Anwendungen. Der elektronische Ansatz in Verbindung mit synthetischer Bildgebungstechnik lässt sehr kurze Messzeiten in Verbindung mit einer hohen Bildqualität zu. Das unterstützt den sinnvollen Einsatz dieser Technik sowohl in einer Produktionsumgebung als auch in einem Qualitätslabor.

Das 3D Terahertz-Bildgebungssystem SynViewScan erlaubt auf Basis des Terahertz-Profilometer-Messkopfes SynViewHead schnelle und robuste drei-dimensionale Messungen. Damit können vor allem Verbundmaterialien aus Glasfaserplatten, Schäumen, Papier und Kunststoff in der Tiefe dreidimensional untersucht werden.

Dies unterstützt die Detektion verborgener Luft- oder Wassereinschlüsse, fehlerhafter Verklebungen oder struktureller Defekte. Die Messzeit liegt abhängig von der Systemkonfiguration und der Anwendung im Bereich von weniger als 1 s bis zu 10 s.